Ce projet est une solution logicielle dédiée à la gestion et à l'analyse de données issues de détecteurs de diffraction X, notamment pour les expériences en cristallographie ou en science des matériaux. Il permet de configurer, contrôler et acquérir des données en temps réel depuis des équipements spécialisés comme les détecteurs Mythen. Le système facilite également le traitement et l'optimisation des paramètres expérimentaux pour améliorer la précision des mesures.