Ce projet propose une suite logicielle dédiée à l'analyse et au traitement des données issues de la diffusion des rayons X et de la microdiffraction. Il permet aux chercheurs et ingénieurs en cristallographie de manipuler, visualiser et interpréter des données complexes pour en extraire des informations structurales précises. Les outils développés facilitent la compréhension des propriétés des matériaux à l'échelle atomique.