Outil dédié à la reconstruction et à l'analyse de données issues de la microscopie par ptychographie de Bragg. Il permet d'étudier les propriétés structurales de matériaux cristallins, comme les déformations, les paramètres de maille ou les déplacements atomiques. Utilisé principalement dans le domaine de la recherche en science des matériaux et en physique de la matière condensée, il facilite l'interprétation des données expérimentales collectées sur des lignes de lumière synchrotron.

Logiciel dédié à l'analyse des déformations et orientations cristallines à partir de données de diffraction des rayons X. Il permet aux chercheurs et ingénieurs de caractériser précisément les propriétés structurales des matériaux, notamment dans les domaines de la science des matériaux et de la physique de la matière condensée. L'outil facilite l'interprétation des données expérimentales pour optimiser les performances des matériaux étudiés.