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Pertinence
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- Notoriété 15 %Logiciel dédié à l'analyse des déformations et orientations cristallines à partir de données de diffraction des rayons X. Il permet aux chercheurs et ingénieurs de caractériser précisément les propriétés structurales des matériaux, notamment dans les domaines de la science des matériaux et de la physique de la matière condensée. L'outil facilite l'interprétation des données expérimentales pour optimiser les performances des matériaux étudiés.
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