Outil dédié à l'analyse avancée de données de diffraction aux rayons X pour la science des matériaux. Permet de segmenter et d'identifier des pics de diffraction, d'indexer ces pics pour déterminer les orientations cristallines, et de cartographier spatialement les grains dans un échantillon. Utilisé principalement en cristallographie et en science des matériaux pour étudier les propriétés structurales et les contraintes internes des matériaux.