Outil dédié à l'analyse avancée de données de diffraction aux rayons X pour la science des matériaux. Permet de segmenter et d'identifier des pics de diffraction, d'indexer ces pics pour déterminer les orientations cristallines, et de cartographier spatialement les grains dans un échantillon. Utilisé principalement en cristallographie et en science des matériaux pour étudier les propriétés structurales et les contraintes internes des matériaux.

Ce projet avait pour objectif de cartographier et centraliser les projets développés au sein d'une plateforme publique dédiée à l'éducation et au numérique. Il permettait aux utilisateurs de découvrir et d'accéder facilement aux différentes ressources et initiatives proposées, favorisant ainsi la collaboration et la transparence.

Ce projet centralise des fichiers de cartographie (GPX, GeoJSON, KML) pour faciliter la visualisation et l'analyse de données géolocalisées. Il permet de générer des cartes interactives à partir de contours territoriaux ou de ressources éducatives, en s'appuyant sur des outils comme SPIP GIS ou Umap. Les données proviennent de sources ouvertes et sont utilisées par des acteurs publics pour des besoins pédagogiques ou administratifs.