Logiciel dédié à l'analyse des déformations et orientations cristallines à partir de données de diffraction des rayons X. Il permet aux chercheurs et ingénieurs de caractériser précisément les propriétés structurales des matériaux, notamment dans les domaines de la science des matériaux et de la physique de la matière condensée. L'outil facilite l'interprétation des données expérimentales pour optimiser les performances des matériaux étudiés.

Ce projet fournit des outils dédiés à l'analyse de données de diffraction des rayons X (XRPD) et au calcul de fonctions de distribution de paires (PDF). Il permet d'automatiser le traitement complet des données, depuis l'intégration des motifs XRPD jusqu'à la génération de fichiers de résultats exploitables. Les workflows proposés facilitent la configuration, l'exécution et l'export des données en formats standardisés comme NeXus (HDF5) ou ASCII, adaptés aux besoins des instruments scientifiques.

Xsocs est un outil dédié à l'analyse et à la simulation de données issues de la diffraction des rayons X. Il permet aux chercheurs et ingénieurs de traiter des données expérimentales, modéliser des structures cristallines et optimiser des paramètres pour des expériences en science des matériaux ou en cristallographie. Le projet facilite la compréhension des propriétés structurales des matériaux étudiés.

Ce projet est une solution logicielle dédiée à la gestion et à l'analyse de données issues de détecteurs de diffraction X, notamment pour les expériences en cristallographie ou en science des matériaux. Il permet de configurer, contrôler et acquérir des données en temps réel depuis des équipements spécialisés comme les détecteurs Mythen. Le système facilite également le traitement et l'optimisation des paramètres expérimentaux pour améliorer la précision des mesures.

Outil dédié au traitement et à l'analyse de données issues de la diffraction des rayons X, notamment pour la tomographie par contraste de diffraction (XRD-CT). Il permet d'effectuer des intégrations azimuthales sur des jeux de données complexes, facilitant ainsi l'analyse cristallographique et la reconstruction d'images 3D. Utilisé principalement dans le domaine de la recherche scientifique et des grands instruments comme les synchrotrons.

Plateforme dédiée au traitement et à l'analyse de données issues de la diffraction des rayons X (XRPD). Elle permet aux chercheurs et ingénieurs de configurer, exécuter et automatiser des workflows de traitement de données expérimentales. L'outil facilite la reprocessing des données, l'intégration avec des environnements de calcul scientifique et la génération de rapports standardisés pour la recherche en physique et chimie.

Ce projet fournit un ensemble d'outils et de workflows dédiés au traitement et à l'analyse de données issues de techniques de diffraction avancées, notamment pour la calibration et l'intégration de spectres de rayons X. Il facilite l'automatisation des processus expérimentaux et la gestion des données brutes et traitées, en s'appuyant sur des logiciels spécialisés comme pyFAI et Ewoks. Destiné aux scientifiques et chercheurs, il optimise la reproductibilité et la traçabilité des analyses.

Projet open source dédié au traitement et à l'analyse de données issues de la technique 3DXRD (3D X-Ray Diffraction). Il permet aux chercheurs et ingénieurs de configurer des pipelines de calcul pour extraire des informations structurales à partir de données expérimentales. L'interface graphique facilite la création de workflows complexes sans nécessiter de compétences en programmation avancée. Les résultats peuvent être visualisés et exportés pour des analyses complémentaires.

Bibliothèque Python dédiée au traitement et à la conversion de données issues de la diffraction des rayons X sur monocristaux (SC-XRD). Elle permet d'automatiser des workflows complexes, de transformer des données brutes en formats compatibles avec des logiciels d'analyse comme CrysAlis, et facilite la publication des résultats expérimentaux. Utilisée principalement dans des environnements de recherche scientifique, notamment à l'ESRF.

Outil dédié à l'analyse avancée de données de diffraction aux rayons X pour la science des matériaux. Permet de segmenter et d'identifier des pics de diffraction, d'indexer ces pics pour déterminer les orientations cristallines, et de cartographier spatialement les grains dans un échantillon. Utilisé principalement en cristallographie et en science des matériaux pour étudier les propriétés structurales et les contraintes internes des matériaux.